Bagaimana modul dibuat dan diuji · Di dalam modul: laser dan penerima · Transceiver optik dan kabel · Dokumentasi · CodingBox
CodingBox Dokumentasi

Bagaimana modul dibuat dan diuji

Datasheet transceiver menjanjikan dua puluh tahun pada 70 °C, panjang gelombang dalam presisi satu nanometer, dan DDM Tx dalam presisi 2 dB dari nilai sebenarnya. Apakah janji itu terpenuhi bergantung pada proses pabrik yang tidak pernah dilihat oleh pembeli: skrining chip, penyelarasan sub-mikron, kalibrasi pada stasiun uji, burn-in, dan langkah pengodean terakhir yang menuliskan identitas yang kelak Anda baca di meja kerja. Memahami proses ini menjelaskan mengapa modul yang bagus berharga sebagaimana adanya, mengapa yang murah gagal pada suhu ekstrem, dan apa arti fisik dari “konstanta kalibrasi” dan “pengodean”.

Dari wafer ke modul

laser / PD wafers ──► chip test & screening ──► TOSA / ROSA assembly ──► OSA test
                                                                             │
PCB assembly (SMT: driver, TIA, MCU, DSP, EEPROM) ──► board test ────────────┤
                                                                             ▼
                              module assembly ──► calibration & tuning ──► burn-in ──► final test ──► coding & label ──► QA sample ──► ship

Chip

LangkahYang terjadiMengapa ini penting
Pertumbuhan waferlaser dan PD berbasis InP (1310/1550 nm) melalui MOCVD; VCSEL GaAs; fotodioda Si/Ge untuk SiPhmaterial menentukan panjang gelombang dan kecepatan — Laser
Uji probe chipkurva LIV (light vs current vs voltage): ambang, slope efficiency, resistansi seri; spektrum: panjang gelombang pusat, side-mode suppression (SMSR)die yang di luar spesifikasi ditolak; data LIV menjadi dasar target APC
Chip burn-inlaser dipaksa menua pada suhu dan arus yang ditinggikan (misalnya puluhan hingga ratusan jam pada 85 °C) untuk menyingkirkan kegagalan dinilaser yang bias-nya bergeser lebih dari beberapa persen akan dibuang
Pemilahandie diurutkan berdasarkan panjang gelombang (untuk kanal CWDM/LAN-WDM) dan dayaalasan mengapa sebagian kanal langka

Sub-rakitan optik

Die attach pada submount, wire bonding, lalu langkah yang menentukan harga: penyelarasan aktif — dengan laser dalam keadaan menyala, lensa dan/atau stub serat optik digerakkan dalam langkah sub-mikron untuk memaksimalkan daya yang tergandeng, lalu difiksasi dengan pengelasan laser atau UV epoxy. Kemasan hermetis di-cap-weld dan diuji kebocoran; OSA yang sudah jadi diukur daya pancar, extinction ratio, bentuk eye, dan, pada penerima, responsivitas serta sensitivitasnya (Kemasan optik). Engine COB menggantikan ini dengan pick-and-place die telanjang di bawah larik lensa yang dicetak (Chip-on-board).

Kalibrasi dan penyetelan

Pada stasiun uji dengan ruang suhu, meter daya optik, BER tester, dan penerima referensi, firmware diajarkan arti dari angka mentahnya:

Komponen yang dikalibrasiProsedurDisimpan di mana
Monitor daya Txdaya pancar aktual diukur dengan meter daya pada beberapa setting; pembacaan monitor-PD dipetakan ke dBmkalibrasi internal: tabel firmware; kalibrasi eksternal: slope/offset A2h Tx_PWR
Target APCbias disesuaikan hingga daya pancar mencapai nilai yang ditentukan pada 25 °C; target disimpanfirmware
Arus modulasi / setting DSP vs suhueye dan extinction ratio dioptimalkan pada suhu rendah, ruang, dan tinggi (uji “3-temp”); tabel pencarian ditulisfirmware
Monitor daya Rxcahaya terkalibrasi pada panjang gelombang modul disuntikkan pada beberapa level; fotoarus dipetakan ke dBminternal: firmware; eksternal: polinomial A2h Rx_PWR(4..0)
Sensor suhudibandingkan terhadap referensi ruangslope/offset
ADC Vcc, biasdibandingkan terhadap sumber presisislope/offset
Ambangbatas alarm/peringatan ditulis sesuai desainA2h 0–39 / halaman QSFP 03h / halaman CMIS 02h
Panjang gelombang (DWDM, LR4)titik setel TEC disesuaikan hingga kanal tepat pada grid; pengunci dikalibrasifirmware

Dari sinilah asal akurasi DDM ±2–3 dB — dan mengapa modul yang hanya dikalibrasi pada suhu ruang akan membaca salah pada 65 °C (Akurasi & batas, Kalibrasi).

Pengujian yang harus dilalui modul

UjiMengukurStandar / metrik
Eye diagram vs mask (NRZ)rise/fall, jitter, overshoot, extinction ratiomask IEEE 802.3 / FC untuk PMD tersebut
TDECQ (PAM4)eye closure setelah ekualiser referensiIEEE 802.3 Clause 121+
OMA dan daya rata-ratadaya pancar dalam jendela spesifikasitabel PMD
Extinction ratiorasio level 1 terhadap 0≥ 3,5–9 dB tergantung PMD
Panjang gelombang, SMSR, lebar spektralλ pusat berada dalam kanal; kemurnian single-modeoptical spectrum analyser
RIN, chirpnoise laser dan goyangan panjang gelombangPMD jangkauan jauh
Sensitivitas / sensitivitas tertekanBER vs daya input dengan atenuator, bentuk gelombang kasus terburukBER tester (BERT), target 10⁻¹² atau pre-FEC
Penalti dispersiBER sepanjang panjang serat optik maksimum atau emulatorPMD jangkauan jauh
Uji fungsional tiga suhusemua hal di atas pada −5/25/70 °C (atau rentang yang dinilai)memisahkan modul sungguhan dari yang hanya diuji pada suhu ruang
Konsumsi daya, lonjakan arusterhadap kelas dayaspesifikasi perangkat keras SFF-8431 / QSFP-DD
Pemeriksaan dua kawat dan DDMpeta memori dapat dibaca, nilai masuk akal, flag berfungsiSFF-8472 / SFF-8636 / CMIS
Mekanisgaya penyisipan, latch, EMI cage, daya tahan konektorspesifikasi perangkat keras SFF

Kualifikasi desain (bukan setiap unit) mengikuti Telcordia GR-468-CORE: siklus suhu, panas lembap, guncangan dan getaran mekanis, penuaan dipercepat pada sampel untuk memproyeksikan masa pakai yang kemudian dicantumkan pada datasheet.

Burn-in dan skrining

Modul yang sudah jadi dijalankan selama berjam-jam hingga berhari-hari pada suhu yang ditinggikan di bawah trafik; DDM dicatat; unit yang bias, daya, atau error-nya bergeser akan ditarik. Langkah ini mahal dan menjadi hal pertama yang dilewati oleh produsen berbiaya rendah — itulah sebabnya statistik kegagalan lapangan pada optik murah terlihat baik selama satu tahun lalu tiba-tiba melonjak (Kegagalan).

Pengodean: langkah terakhir

Baru pada titik inilah identitas dituliskan: nama vendor, nomor komponen, nomor seri, kode tanggal, kode kepatuhan, panjang, panjang gelombang, opsi, checksum — baik milik produsen sendiri maupun merek pelanggan yang untuknya batch tersebut dibuat. Produsen kontrak memproduksi satu modul fisik dan mengodekannya di bawah banyak nama; modul ber-brand OEM mendapat signature vendor pada area vendor. Ini adalah operasi yang sama dengan yang dilakukan CodingBox di meja kerja (Pengodean ulang EEPROM, Bidang vendor) — pabrik hanya melakukannya dengan data kalibrasi yang sudah tersedia.

Apa yang membedakan kelas

PraktikProdusen kelas penuhProdusen berbiaya rendah
Skrining chip dan burn-inyakadang
Kualitas penyelarasan aktif±0,5 µm, di-weldepoxy, toleransi lebih lebar
Kalibrasi3 suhu, per modulsuhu ruang atau per batch
DDM Txdiukurkadang berupa konstanta (Level DDM)
Isolatorya pada 1310/1550kadang dihilangkan
Burn-in modulyajarang
Uji pada rentang suhu yang dinilaiyasering tidak
Keterlacakancatatan uji yang tertaut ke nomor seritidak ada

Tidak satu pun dari ini terlihat pada byte identitas; semua ini terlihat pada perilaku DDM terhadap suhu dan pada tingkat kegagalan setelah satu tahun.

Di CodingBox

Inspeksi kedatangan di meja kerja mengulangi sebagian kecil dari uji akhir pabrik: membaca identitas dan checksum, memverifikasi nilai DDM hidup dan masuk akal dibandingkan dengan nilai tipikal, mencatat nilai acuan pada code database. Batch yang daya Tx atau bias-nya identik di semua unit, atau yang suhunya tidak pernah berubah, berarti gagal pada langkah pabrik yang diklaim telah dilaluinya.


Jika Anda menemukan ketidakakuratan atau kesalahan dalam artikel ini, pilih bagian teks yang bersangkutan lalu tekan Ctrl+Enter untuk .