Bagaimana modul dibuat dan diuji
Datasheet transceiver menjanjikan dua puluh tahun pada 70 °C, panjang gelombang dalam presisi satu nanometer, dan DDM Tx dalam presisi 2 dB dari nilai sebenarnya. Apakah janji itu terpenuhi bergantung pada proses pabrik yang tidak pernah dilihat oleh pembeli: skrining chip, penyelarasan sub-mikron, kalibrasi pada stasiun uji, burn-in, dan langkah pengodean terakhir yang menuliskan identitas yang kelak Anda baca di meja kerja. Memahami proses ini menjelaskan mengapa modul yang bagus berharga sebagaimana adanya, mengapa yang murah gagal pada suhu ekstrem, dan apa arti fisik dari “konstanta kalibrasi” dan “pengodean”.
Dari wafer ke modul
laser / PD wafers ──► chip test & screening ──► TOSA / ROSA assembly ──► OSA test
│
PCB assembly (SMT: driver, TIA, MCU, DSP, EEPROM) ──► board test ────────────┤
▼
module assembly ──► calibration & tuning ──► burn-in ──► final test ──► coding & label ──► QA sample ──► ship
Chip
| Langkah | Yang terjadi | Mengapa ini penting |
|---|---|---|
| Pertumbuhan wafer | laser dan PD berbasis InP (1310/1550 nm) melalui MOCVD; VCSEL GaAs; fotodioda Si/Ge untuk SiPh | material menentukan panjang gelombang dan kecepatan — Laser |
| Uji probe chip | kurva LIV (light vs current vs voltage): ambang, slope efficiency, resistansi seri; spektrum: panjang gelombang pusat, side-mode suppression (SMSR) | die yang di luar spesifikasi ditolak; data LIV menjadi dasar target APC |
| Chip burn-in | laser dipaksa menua pada suhu dan arus yang ditinggikan (misalnya puluhan hingga ratusan jam pada 85 °C) untuk menyingkirkan kegagalan dini | laser yang bias-nya bergeser lebih dari beberapa persen akan dibuang |
| Pemilahan | die diurutkan berdasarkan panjang gelombang (untuk kanal CWDM/LAN-WDM) dan daya | alasan mengapa sebagian kanal langka |
Sub-rakitan optik
Die attach pada submount, wire bonding, lalu langkah yang menentukan harga: penyelarasan aktif — dengan laser dalam keadaan menyala, lensa dan/atau stub serat optik digerakkan dalam langkah sub-mikron untuk memaksimalkan daya yang tergandeng, lalu difiksasi dengan pengelasan laser atau UV epoxy. Kemasan hermetis di-cap-weld dan diuji kebocoran; OSA yang sudah jadi diukur daya pancar, extinction ratio, bentuk eye, dan, pada penerima, responsivitas serta sensitivitasnya (Kemasan optik). Engine COB menggantikan ini dengan pick-and-place die telanjang di bawah larik lensa yang dicetak (Chip-on-board).
Kalibrasi dan penyetelan
Pada stasiun uji dengan ruang suhu, meter daya optik, BER tester, dan penerima referensi, firmware diajarkan arti dari angka mentahnya:
| Komponen yang dikalibrasi | Prosedur | Disimpan di mana |
|---|---|---|
| Monitor daya Tx | daya pancar aktual diukur dengan meter daya pada beberapa setting; pembacaan monitor-PD dipetakan ke dBm | kalibrasi internal: tabel firmware; kalibrasi eksternal: slope/offset A2h Tx_PWR |
| Target APC | bias disesuaikan hingga daya pancar mencapai nilai yang ditentukan pada 25 °C; target disimpan | firmware |
| Arus modulasi / setting DSP vs suhu | eye dan extinction ratio dioptimalkan pada suhu rendah, ruang, dan tinggi (uji “3-temp”); tabel pencarian ditulis | firmware |
| Monitor daya Rx | cahaya terkalibrasi pada panjang gelombang modul disuntikkan pada beberapa level; fotoarus dipetakan ke dBm | internal: firmware; eksternal: polinomial A2h Rx_PWR(4..0) |
| Sensor suhu | dibandingkan terhadap referensi ruang | slope/offset |
| ADC Vcc, bias | dibandingkan terhadap sumber presisi | slope/offset |
| Ambang | batas alarm/peringatan ditulis sesuai desain | A2h 0–39 / halaman QSFP 03h / halaman CMIS 02h |
| Panjang gelombang (DWDM, LR4) | titik setel TEC disesuaikan hingga kanal tepat pada grid; pengunci dikalibrasi | firmware |
Dari sinilah asal akurasi DDM ±2–3 dB — dan mengapa modul yang hanya dikalibrasi pada suhu ruang akan membaca salah pada 65 °C (Akurasi & batas, Kalibrasi).
Pengujian yang harus dilalui modul
| Uji | Mengukur | Standar / metrik |
|---|---|---|
| Eye diagram vs mask (NRZ) | rise/fall, jitter, overshoot, extinction ratio | mask IEEE 802.3 / FC untuk PMD tersebut |
| TDECQ (PAM4) | eye closure setelah ekualiser referensi | IEEE 802.3 Clause 121+ |
| OMA dan daya rata-rata | daya pancar dalam jendela spesifikasi | tabel PMD |
| Extinction ratio | rasio level 1 terhadap 0 | ≥ 3,5–9 dB tergantung PMD |
| Panjang gelombang, SMSR, lebar spektral | λ pusat berada dalam kanal; kemurnian single-mode | optical spectrum analyser |
| RIN, chirp | noise laser dan goyangan panjang gelombang | PMD jangkauan jauh |
| Sensitivitas / sensitivitas tertekan | BER vs daya input dengan atenuator, bentuk gelombang kasus terburuk | BER tester (BERT), target 10⁻¹² atau pre-FEC |
| Penalti dispersi | BER sepanjang panjang serat optik maksimum atau emulator | PMD jangkauan jauh |
| Uji fungsional tiga suhu | semua hal di atas pada −5/25/70 °C (atau rentang yang dinilai) | memisahkan modul sungguhan dari yang hanya diuji pada suhu ruang |
| Konsumsi daya, lonjakan arus | terhadap kelas daya | spesifikasi perangkat keras SFF-8431 / QSFP-DD |
| Pemeriksaan dua kawat dan DDM | peta memori dapat dibaca, nilai masuk akal, flag berfungsi | SFF-8472 / SFF-8636 / CMIS |
| Mekanis | gaya penyisipan, latch, EMI cage, daya tahan konektor | spesifikasi perangkat keras SFF |
Kualifikasi desain (bukan setiap unit) mengikuti Telcordia GR-468-CORE: siklus suhu, panas lembap, guncangan dan getaran mekanis, penuaan dipercepat pada sampel untuk memproyeksikan masa pakai yang kemudian dicantumkan pada datasheet.
Burn-in dan skrining
Modul yang sudah jadi dijalankan selama berjam-jam hingga berhari-hari pada suhu yang ditinggikan di bawah trafik; DDM dicatat; unit yang bias, daya, atau error-nya bergeser akan ditarik. Langkah ini mahal dan menjadi hal pertama yang dilewati oleh produsen berbiaya rendah — itulah sebabnya statistik kegagalan lapangan pada optik murah terlihat baik selama satu tahun lalu tiba-tiba melonjak (Kegagalan).
Pengodean: langkah terakhir
Baru pada titik inilah identitas dituliskan: nama vendor, nomor komponen, nomor seri, kode tanggal, kode kepatuhan, panjang, panjang gelombang, opsi, checksum — baik milik produsen sendiri maupun merek pelanggan yang untuknya batch tersebut dibuat. Produsen kontrak memproduksi satu modul fisik dan mengodekannya di bawah banyak nama; modul ber-brand OEM mendapat signature vendor pada area vendor. Ini adalah operasi yang sama dengan yang dilakukan CodingBox di meja kerja (Pengodean ulang EEPROM, Bidang vendor) — pabrik hanya melakukannya dengan data kalibrasi yang sudah tersedia.
Apa yang membedakan kelas
| Praktik | Produsen kelas penuh | Produsen berbiaya rendah |
|---|---|---|
| Skrining chip dan burn-in | ya | kadang |
| Kualitas penyelarasan aktif | ±0,5 µm, di-weld | epoxy, toleransi lebih lebar |
| Kalibrasi | 3 suhu, per modul | suhu ruang atau per batch |
| DDM Tx | diukur | kadang berupa konstanta (Level DDM) |
| Isolator | ya pada 1310/1550 | kadang dihilangkan |
| Burn-in modul | ya | jarang |
| Uji pada rentang suhu yang dinilai | ya | sering tidak |
| Keterlacakan | catatan uji yang tertaut ke nomor seri | tidak ada |
Tidak satu pun dari ini terlihat pada byte identitas; semua ini terlihat pada perilaku DDM terhadap suhu dan pada tingkat kegagalan setelah satu tahun.
Di CodingBox
Inspeksi kedatangan di meja kerja mengulangi sebagian kecil dari uji akhir pabrik: membaca identitas dan checksum, memverifikasi nilai DDM hidup dan masuk akal dibandingkan dengan nilai tipikal, mencatat nilai acuan pada code database. Batch yang daya Tx atau bias-nya identik di semua unit, atau yang suhunya tidak pernah berubah, berarti gagal pada langkah pabrik yang diklaim telah dilaluinya.